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英國(guó)牛津cmi243鍍層測(cè)厚儀

英國(guó)牛津cmi243鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:
英國(guó)牛津cmi243鍍層測(cè)厚儀
1、采用基于相位的電渦流技術(shù),集測(cè)量精密、價(jià)格合理、質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。
2、為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量,鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。
3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性。
4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

更新時(shí)間:2024-11-14

訪問(wèn)量:550

廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地:北京市

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間1千-5千
產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域化工,地礦,建材

英國(guó)牛津cmi243鍍層測(cè)厚儀

1、采用基于相位的電渦流技術(shù),集測(cè)量精密、價(jià)格合理、質(zhì)量?jī)?yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。

2、為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量,鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。

3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性。

4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

測(cè)量技術(shù):

一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。

牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用,將底材效應(yīng)最小化,使得測(cè)量準(zhǔn)確且不受零件的幾何形狀影響。

另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。

cmi243鍍層測(cè)厚儀

ECP-M探頭及拆除指南

  Rs232串行電纜

  校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組

  可選配SMTP-1(磁感應(yīng)探頭)

 

測(cè)量范圍:

鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd            0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

 

技術(shù)參數(shù)及功能:

準(zhǔn)確度:相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%

精確度:0.3%

分辨率:0.1μm

電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376

存儲(chǔ)量:26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù)

尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量:0.26 kg 包括電池

單位:英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換

接口:RS-232串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)

顯示屏:三位數(shù)LCD液晶顯示

電池:9伏堿性電池,65小時(shí)連續(xù)使用

ECP-M探頭ECP-M探頭為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量,鐵質(zhì)底材上金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。

 

ECP-M探頭規(guī)格(mm)

最小凸面半徑

1.143

小凹面半徑

1.524

測(cè)量高度

101.6

小測(cè)量直徑

2.286

底材小

304.8


243E英國(guó)牛津cmi243鍍層測(cè)厚儀

是一款靈便、易用的儀器,為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量鐵質(zhì)底上金屬鍍層-即使在小的、幾何形狀的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。這款測(cè)厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的工具。采用基于相位的電渦流技術(shù)。

243E手持式測(cè)厚儀易于用戶控制,并且可以同X射線熒光測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性和精密性。為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)。OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

 

牛津涂層測(cè)厚儀

牛津儀器公司提供高一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效

應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。

牛津儀器將基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用,將底材效應(yīng)小化,使得測(cè)量值且不受零件的幾何形狀影響。另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。ECP-M探頭為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為小的、幾何形狀的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。


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